YDP20-0CEV1赛多利斯天平打印机 符合实验室GLP/GMP规范要求,数据可追溯 数据统计： 可以对多份样品称重数据进行统计计算，包括：测量次数、平均值、标准偏差、偏差系数、总和、大值、小值、偏差。