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YDP20-0CEV1赛多利斯天平打印机

描述:YDP20-0CEV1赛多利斯天平打印机
符合实验室GLP/GMP规范要求,数据可追溯
数据统计: 可以对多份样品称重数据进行统计计算,包括:测量次数、平均值、标准偏差、偏差系数、总和、大值、小值、偏差。

更新时间:2021-10-22
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厂商性质:代理商
详情介绍

YDP20-0CEV1赛多利斯天平打印机

数据打印: 符合实验室GLP/GMP规范要求,避免因手工记录出现差错。

日期打印: 可以在打印报告中加入时间和日期,数据可追溯。

数据统计: 可以对多份样品称重数据进行统计计算,包括:测量次数、平均值、标准偏差、偏差系数、总和、大值、小值、偏差。

编号功能: 可以在每一份称重数据前自动加入编号,避免样品过多造成识别混乱。

电子签名: 通过RFID技术识别操作员身份,并自动在报告中加入操作员签名。

权限管理: 禁止非授权人员操作电子天平,并可自动生成天平使用记录。

条码识别: 通过外接条码扫描器,读取样品信息并自动在报告中加入。

数据记录: 可记录多达上万条称重数据,并通过U盘导出到EXCEL电子表格作研究分析。

赛多利斯YDP20型打印机全部打印功能,打印数据和日期,具备统计求和功能,符合GMP要求,带中文显示屏,操作方便,可打印中文用户标识,比原厂多保修一年;



YDP20-0CEV1赛多利斯天平打印机

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